VBUS 过压保护与滤波电路设计
2026-08-02 · 云芯技术团队(原创) 技术文档
分类:应用笔记
插拔浪涌、误档位、ESD 三重威胁下,OVP 与 π 型滤波如何让 VBUS 可靠。
【原创声明】本文由云芯技术团队原创,聚焦可靠性设计。
一、VBUS 面临的威胁
- 插拔浪涌:热插拔瞬间电容充电,VBUS 可冲到 24V+(设计 20V 口)。
- 错误档位:协商失败误上 20V 给只支持 5V 的设备。
- ESD/EFT:人体放电、快充脉冲群。
二、OVP 方案
1. 理想二极管 + 分压采样:用运放比较 VBUS 与阈值(如 6.0V for 5V 口),超限切断背靠背 MOS。
2. 专用 OVP 芯片:集成 28V 耐压、固定阈值、自动恢复,简化设计。
3. TVS:VBUS 到地放 24V~30V 钳位二极管,吸收瞬态。
三、滤波
- 输入 π 型滤波(C-L-C)抑制共模与差模噪声,尤其多口同频 Buck 时。
- 输出加 47μF~220μF 低 ESR 电解 + 100nF 陶瓷,降低负载瞬态跌落。
四、布局要点
- TVS 尽量靠近 Type-C 座,走线短而粗。
- OVP MOS 散热焊盘铺铜,过流时温升可控。
- 地分割:VBUS 功率地与信号地单点连接,避免噪声串入 CC。
五、验证
- 注入 1kV ESD 看是否复位。
- 强制误档(手动给 20V 到 5V 口)确认 OVP 在 1ms 内切断。